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能量色散X射线荧光分析仪测试电镀膜厚 电镀膜厚测试仪是一种用于测量金属表面涂层膜厚度的专业仪器,广泛应用于各个领域,如航空航天、汽车、电子、医药、钢铁等行业。
多毛细管配置X射线荧光测厚仪 技术服务的响应期限:提供好的技术服务,在接到用户故障信息后,4小时内响应;如有必要,12~72个小时内派人上门维修和排除故障。 5) 非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务(如增加测试功能和数据校正等),乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中,具体事例双方协商解决。
电镀件镀层厚度检测仪 检测电镀层厚度的方法有很多。根据检测方法的原理可以分为物理法和化学法两大类。化学法有溶解法、计时流液法、电量法等;物理法有直接测量法、质量法、磁性法、β射线反射法、X射线荧光法、多相显微镜法、轮廓仪法等。
X射线光谱法测试电镀层仪器 我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)等。
膜厚测试仪测量电镀层厚度 技术指标: 1.1 分析元素范围:S-U 1.2 同时可分析24个元素,五层镀层以上 1.3 分析厚度检出限最高达0.005μm 1.4 定位精度:0.02mm 1.5 测量时间:5s以上 1.6 计数率:0-8000cps 1.7 Z轴升降范围:0-140mm 1.8 图像联动系统,可编程,可实现单点,多点,网格多种控制
pcb线路板电镀镀层厚度检测仪 软件应用 -单镀层测量 -线性层测量,如:薄膜测量 -双镀层测量 - 针对合金可同时进行镀层厚度 -三镀层测量。 -吸收模式的应用DIN50987.1/ISO3497-A2 -励磁模式的应用DIN50987.1/ISO3497-A1
Pcb电路板电镀镀层厚度检测仪 仪器维修和调整功能 - 自动校准功能; -优化系统取决仪器条件和操作室环境; - 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率,迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。