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简要描述：韩国beplay官网提现精度高
我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）等等

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-07-16
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电镀层检测仪

电镀镀层电镀膜厚金属电镀层检测仪电镀膜厚分析仪

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详细介绍

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应用领域

分析各种电镀镀层厚度

镀层检测：

2.1、常见金属镀层有：

镀层

基体

Ni-P

Sn-Pb

Zn-Ni

●

SUS

●

2.2、单层厚度范围：

金镀层0－8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内，

可最小测量达0.001um。

2.3、多层厚度范围

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um

2.4、镀层层数为1-6层

2.5、镀层精度相对差值一般<5%。

2.6、镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）

Ni层厚度(um)	保证精度
<1.0um	<5%
1.0-5.0um	<3%
5.0-10um	<3%
10-20um	<3%
>20.0um	<3%

技术指标

多镀层分析，1～5层；

测试精度：0.001 μm；

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；

测量时间：10~30秒；

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；

6个准直器及多个滤光片自动切换；

高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置；

多变量非线性去卷积曲线拟合；

高性能FP/MLSQ分析；

仪器尺寸：450×520×385mm。

图谱界面

软件支持无标样分析；

宽大分析平台和样品腔；

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；

采用多种光谱拟合分析处理技术；

镀层测厚分析可达到0.001μm。

分析报告结果

直接打印分析报告；
报告可转换为PDF，EXCEL格式。

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