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XRF光谱检测分析测试测定测量化验仪器设备

简要描述:XRF光谱检测分析测试测定测量化验仪器设备
XRF光谱分析机器设备性能分辨率Si-Pin X射线探测器。
分析金属元素成分XRF光谱仪器设备集中于ppm与百分比(%)显示,光谱或峰强度(计数率)或用户定的单位

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-11-06
  • 访 问 量:4164

详细介绍

XRF光谱检测分析测试测定测量化验仪器设备

检测仪用途及技术规格

项目

Innov-X DC6500

重量

基本上重量:1.4kg上电池后:1.6kg

尺寸

300mm x 90mm x 220mm

激发源

射线管靶材5种可选择金(Au)、银(Ag)、钨(W)、钽(Ta),钯(Pb

滤波器

六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节

探测器

性能分辨率Si-Pin X射线探测器

解析度

<220

电源

8小时/2块锂电源及交流电源

兼容性

蓝牙,GPS,打印

软件模式

塑料、合金、混合物等3种模式。

数据分析

多种分析模式,包括基本参数,Compton归一化,经验校准模式,光谱搭配

显示屏

彩色,分辨率TFT工业级触摸屏

PDA

数据即时显现,彩屏、128M标准内存,可升级至4Gb闪存卡、可用SD卡、CF卡。

仪器的技术指标和性能参数

冷却系统:采用了Peltier恒温冷却系统,控测器在-35℃下工作,保证仪器的检测精度,和不受外界温度的影响。

滤波器:滤波器8,可根据不同的电压自动切换。

电压,电流:电压15~40kv,电流100uA

多光束:两个光束段,不同的元素采用不同的电压与电流,产生好的分析效果。

主机供电系统:2个锂电池。

用户化Windows CE 6.0操作系统。

RoHS测试软件RoHS/WEEERoHS检测仪采用IEC标准,可内建企业标准。

无卤素测试软件Halogen Free。卤素检测软件采用无卤指令标准,可内建企业标准。

采用了新的校准技术,使仪器具有两倍的计数率,从而具有更快的检测速度和更好的性。

采用了*重新设计的射线管、无压电源线、无RF噪音、更好的X射线屏蔽。

结构更精密,缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离,对于某些应用信号提了~40%.

新的滤波轮更轻、更薄,在位置上更加接近被测样品,具有8个滤波器,可适应的配置,不同的元素采用不同的滤波器,产生好的分析效果。

超过1/3的机体采用铝合金外壳设计,仪器顶部有的槽式散热装置,整个体系使散热非常有效,延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定,从而故障率极低。

内置的气压计可以纠正气压,气压计压力感应,可根据不同的压力调整,从而是检测值更加准确,仪器预设海平面,用户上山或者下到一个矿里测试,无需再次校准,这点对轻元素分析很重要。

仪器外壳采用铝合金、塑胶设计,坚固耐用,手柄软胶设计,手感好,更适合长时间使用。

仪器具有很好的平衡性,在测试时能立于工作台上,一键式按钮设计,即使长时间操作也无疲劳感。

真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的百分比含量。

被检测的样品的对象可以是液体、固体、粉末、灰浆、过滤物、实核体、碎片、微粒、袋装等。

仪器可自动识别样品种类,也可强制设定。分为聚合物、混合物、金属样品三类。

不规则或小型样品的补偿性测试方法,能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认。

用户化windows CE 6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成,用户化windows CE仅保留有基本的windowsDelta系统有关的性能,使程序更具灵活性。

无需借助电脑,可在现场随意,查看,放大相关元素的光谱图。

防尘,防雾,防水:一体机设计,软胶与塑胶部件凸槽&凹槽构造设计,使仪器具有很好的三防性能,可承受恶劣的工作环境,大雾,下雨,尘土飞扬工装场地也能正常工作。

元素分析范围:钛()到铀(U)之间的所有元素。

RoHS/WEEE模式:CdCrPbHgBrClCaVMnFeCoNiCuZnHfTaWAsSeAuBiSrZrNbMoAgSnSb30个元素。

Halogen Free模式:BrPSClKCaCrMnFeCoNiCuZnHgAsPbSeAuBiSrZrMoAgCdSnSb28个元素。

操作系统:用户化操作系统移动Windows CE 6.0,大图标显示,界面友好、灵活、可升级。

处理器:532MHz CPUFreescalARM1136-MX31处理器,浮点运算方式,速度大幅提。

兼容性:支持打印、蓝牙、条码。

辐射安全警示:具有明显的射线开启警示灯、警示标签,以及软件内的警示提醒。

辐射安全:根据NCPR(美国辐射防护委员会)标准,在美国每年的全身辐射受照量的允许值是50mSv/年,手足等表皮组织的年辐射受照量的允许值是50Rem/年。

XRF光谱检测分析测试测定测量化验仪器设备

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