镀层厚度分析仪

简要描述：镀层厚度分析仪
X荧光镀层厚度分析化验机器设备光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-09-17
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测厚仪

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详细介绍

镀层厚度分析仪

可测元素范围：
钛() – 铀(U)

可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm镀层厚度分析仪
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm

综合性能:镀层分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
多年来，我们一直致力于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供性能的仪器和的售后服务。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！

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