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我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。
检测玻璃元素成分仪器设备
产品说明
标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析,是大中型企业质量控制的理想选择。
针对需求满足的解决方案
建筑材料/水泥
耐火材料/陶瓷
冶金矿产/采矿
金属材料
学术研究、教学
玻璃、石墨
土壤调查/元素分析
工艺控制
成分质量控制
成分检测
检验设备
成分指令控制
产品特点
1.1分钟即可完成准确测试,换样抽真空时间小于15秒
2.下照式X射线检测,*避免样品破碎造成的仪器故障,提使用效率
3.采用精度流气密度稳定器(技术)
4.标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析
5.引入测试系统技术、测试的短期和长期稳定性。
6.配备经验系数法、理论影响系数法、基本参数法等定量分析方法
7.测试精度远优于GB/T176-2008对重现性的要求,轻松满足行业需求
产品功能
具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换,即可向配料系统传送分析数据,也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量监控。
具有技术的,快速,安全,性能可靠而实用的样品装卸系统
摇臂式设计的样品装卸系统,完善的粉末保护方式,预真空室和限定位置机构,实现度重现性,**,快速稳定。光路设计示意图,
XRF色散方法是建立在X射线波动性基础上,依据布拉格定律(2dsinθ=nλ)对样品发射出的特征X射线及原级谱线的散射线进行分光,再将待测元素的特征X射线与基体中某些元素的次线射入探测器并将光信号转换为电信号,经放大后,再通过模数转换(ADC)将电信号转换为数字信号,然后由脉冲度分析器筛除次线、晶体荧光等,通过数据处理将特征X射线强度转换为浓度。
连续72小时检测Ca:Ka谱线的强度,达到Q<1.1,Si:Ka谱线的强度,达到Q<1.05, 其他谱线轻易就可达到Q<1.02,
连续72小时检测Ca:Ka谱线的强度,达到Q<1.1,Si:Ka谱线的强度,达到Q<1.05, 其他谱线轻易就可达到Q<1.02,荧光强度的稳定性(包括短期稳定性和长期稳定性)极其。使仪器的校验周期延长到每周一次。加上采用进口瓦里安X光管(76um,400W薄皮窗)和进口压电源(60kV,10mA),使产品的稳定性达到行业水平。
仪器采用WdxAnalyzer V1工作站,人机对话的软件界面、模块化的操作按钮,不同权限的操作员凭密码登陆、输出报告可选多种模式等特点。
性能指标
典型白生料样品的实测分析精度(60S),于GB/T176-2008对重现性的要求。 |
|||||||||
氧化物 |
SiO2 |
Al2O3 |
Fe2O3 |
CaO |
MgO |
Na2O |
K2O |
SO3 |
Clˉ |
分析谱线 |
Si:Ka |
Al:Ka |
Fe:Ka |
Ca:Ka |
Mg:Ka |
Na:Ka |
K:Ka |
S:Ka |
Cl:Ka |
□n-1≤ |
0.03 |
0.02 |
0.01 |
0.035 |
0.02 |
0.02 |
0.01 |
0.01 |
0.0007 |
重现性(%) |
0.10 |
0.06 |
0.05 |
0.15 |
0.05 |
0.05 |
0.05 |
0.05 |
0.002 |
GB/T176-2008 对重现性的要求(%) |
0.20 |
0.2 |
0.15 |
0.25 |
0.15 |
0.05 |
0.15 |
0.15 |
0.00 |
检测玻璃元素成分仪器设备
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