X荧光光谱仪

简要描述：X荧光光谱仪
应用领域：
贵金属（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相关制品的生产、销售、回收的检测；
用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-05-07
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我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰（贵金属及镀层检测等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中规定的有害物质：铅Pb、砷Ａs、锑Sb、钡Ｂa、镉Cd、铬Cr、Ｈg、硒Se以及氯等卤族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（铜合金、铝合金、镁合金等）、冶金（钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等）、地质采矿（各种矿石品位检测设备）、塑料（无卤测试等）、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测等。

X荧光光谱仪

产品信息：

本仪器专门针对贵金属测试，采用新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用于的基本参数法，能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素，其稳定性和可靠性均处于业内水平。

应用领域：

贵金属（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相关制品的生产、销售、回收的检测；

用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。

功能：

开放式工作曲线，可以根据需求建立新工作区

安全性能：迷宫式设计，*达到辐射安全指标

测试操作简单，实现傻瓜式操作模式

报告模板多样化，适应各种测试需求

参数：

分析软件：Ux-6280贵金属分析软件

分析元素种类：26种元素可同时分析

分析方法：基本参数法（定量）

分析元素范围：Na-U,可同时分析26种元素

测量范围：ppm-100%

测量时间：100－300s

度：0.1%（常量相对误差）

分辨率：149±5eV

管压：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

功率：350W

外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

样品仓尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

重量：约48Kg

工作环境：15－30°C，相对湿度≤85%（不结露）

工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350W

标准配置：

探测器： 2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm²；Be窗厚度为1mil

压电源：压范围0-50kV，功率50W，8h稳定性0.05%

X射线管：薄铍窗侧窗X射线管（Mo靶、Rh靶）

清摄像头装置

定位装置

自动开盖装置

X荧光光谱仪

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