ROHS2.0测试方法中IEC62321系列标准是什么

更新时间：2019-01-10 点击次数：14655

2017年3月28日，电工委员会（IEC）发布两个电子电电器产品中有害物质测试标准：IEC 62321-7-2：2017 通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬和IEC 62321-8：2017 通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯。

IEC 62321是电工委员会(IEC)制定的关于电子电气产品中限用有害物质的测试方法。IEC 62321: 2008六种管控物质（铅，，镉，六价铬，多溴联苯，多溴联苯醚）的测定，其中包括了，定义，测试方法总述，机械制样，XRF扫描方法以及各物质的具体测试方法。2013年5月17日开始，IEC发布新的方法，将IEC 62321: 2008拆分为一系列标准，同时导入了新的测试方法或仪器。

本次更新的 IEC 62321-7-2 通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬中，采用有机溶剂代替热水提取法从样品中提取六价铬。IEC 62321-8通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯新增了针对7项邻苯的两种测试方法。

2018年，IEC 将更新其它三项标准：IEC 62321-3-2 2.0 使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、溴、氯进行筛选；IEC 62321-3-3 1.0 使用PY-GC-MS、TD-GC-MS对聚合物中的多溴联苯、多溴二苯醚、特定邻苯二甲酸盐进行筛选以及IEC 62321-10 1.0 通过GC-MS测定聚合物和电子材料中的多环芳烃。

目前所有已更新的IEC 62321标准及其变化如下：

编号	名称	主要变化
IEC 62321-1	简介和概述	基本一致
IEC 62321-2	样品的拆卸、拆解和机械拆分	基本一致
IEC 62321-3-1	电子产品中的铅、、镉、总铬和总溴的筛选	基本一致
IEC 62321-3-2	使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选	新增C-IC方法
IEC 62321-4	使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的	新增热解析金齐化系统方法
IEC 62321-5	使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子材料中的、镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅	总铬的测试要求，新增检测方法AFS
IEC 62321-6	使用GC-MS、IAMS和HPLC测定聚合物和电子材料中的多溴联苯和多溴二苯醚	新增检测方法AFS IAMS/HPLC
IEC 62321-7-1	通过比色法测定金属无色和有色防腐镀层中六价铬	对六价铬结果的阴性阳性判定基准改为小于0.1µg/cm2
IEC 62321-7-2	通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬	采用有机溶剂从样品中提取六价铬
IEC 62321-8	通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯	新增章节，针对7项邻苯提出两种测试方法

C-IC 燃烧离子色谱法

PY-GC-MS 热裂解气相色谱质谱联用仪

IAMS 离子附着质谱法

TD-GC-MS 热脱附气相色谱质谱联用仪

以上信息来源网络收集。